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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LI 48-25-1175-1240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LI 56-25-1375-1440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,375 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LI 64-25-1575-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LI 72-25-1775-1840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LI 80-25-1975-2040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LI 88-25-2175-2240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LI 96-25-2375-2440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,375 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 96
型材截面: 12 x 24 mm
LI 8-50-350-440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LI 16-50-750-840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LI 24-50-1150-1240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LI 32-50-1550-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LI 40-50-1950-2040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LI 48-50-2350-2440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LI 56-50-2750-2840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LI 64-50-3150-3240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LI 72-50-3550-3640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 75
型材截面: 12 x 24 mm
LI 80-50-3950-4040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LI 4-112-336-490 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 336 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 4
型材截面: 12 x 24 mm
LI 8-112-783-940 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 783 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LI 12-112-1230-1380 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,230 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 12
型材截面: 12 x 24 mm