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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA 48-12.5-588-760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 588 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LA 48-12.5-588-760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 588 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LA 56-12.5-688-860 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 688 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LA 56-12.5-688-860 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 688 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LA 64-12.5-788-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 788 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 64-12.5-788-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 788 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 72-12.5-888-1060 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 888 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LA 72-12.5-888-1060 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 888 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LA 80-12.5-988-1160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 988 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LA 80-12.5-988-1160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 988 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-12.5-88-260 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 88 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-12.5-88-260 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 88 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA 88-12.5-1088-1260 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,088 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA 88-12.5-1088-1260 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,088 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA 96-12.5-1188-1360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,188 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 96
型材截面: 12 x 24 mm
LA 96-12.5-1188-1360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,188 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 96
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-12.5-188-360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 188 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-12.5-188-360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 188 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 24-12.5-288-460 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 288 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 24-12.5-288-460 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 288 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm