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LI 测量版

LI 测量版

LI 测量型光幕用于目标测量以及要求苛刻的测量和识别任务。最重要的特征是分辨率高、响应时间短、以及便于整合的纤细型式。

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信息

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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LI 32-50-1550-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LI 40-50-1950-2040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LI 48-50-2350-2440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LI 56-50-2750-2840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LI 64-50-3150-3240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LI 72-50-3550-3640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 75
型材截面: 12 x 24 mm
LI 80-50-3950-4040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 3,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LI 4-112-336-490 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 336 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 4
型材截面: 12 x 24 mm
LI 8-112-783-940 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 783 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LI 12-112-1230-1380 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,230 mm
光束间距: 112 mm
光束数量: 12
型材截面: 12 x 24 mm